광학 현미경, SEM, TEM, AFM 등의 평가를 위한 광범위한 재료의 시편 제작용 정밀 반자동 장비, ● 재료 제거량 표시: 실시간 재료 제거량(샘플 전진)을 표시하는 전면 디지털 표시기 (1 µm 해상도), ● 수직 위치 표시: 제로잉 기능이 있는 후면 디지털 표시기를 통해 수직 위치(정적) 표시 (1 µm 해상도)
고정밀 표면 연마
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